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物理电子学院博士生申华海获国际会议一等奖

文：物电研究生科图：物电研究生科来源：原物理电子学院时间：2013-09-03 2229

我校物理电子学院博士生申华海在2013年8月召开的“Microscopy & Microanalysis 2013 Meeting”会议上获得了物理学科Poster奖一等奖(论文题目：On the study of the oriented cracks formed in ErD2 thin ﬁlm)。

该论文研究了铒膜氘化后的微观结构，发现在薄膜中形成了大量的择优取向裂纹，并首次观察到裂纹中存在的不是通常的气体，而是镶嵌了大量的氧化铒（Er2O3）纳米颗粒。氧化铒（Er2O3）纳米颗粒裂纹的出现，可能会对储氚材料的性能和寿命产生重要影响。

“Microscopy & Microanalysis（显微技术与显微分析）”会议由“Microscopy Society of America（美国电子显微协会）”和“Microanalysis Society （显微分析协会）”共同举办，是电子显微分析学术类的最权威的国际会议，每年举行一次。今年参会总人数高达2740人。会议中物理学科类展出Poster数量近200个，共评出4个一等奖，4个二等奖。

申华海自2009年师从祖小涛教授进行储氚材料的物理特性与电子显微研究，并于2011年硕博连读，现在祖小涛教授和美国密西根大学（ANN ARBOR）孙凯研究员共同指导下攻读博士学位，已发表第一作者SCI论文7篇。