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第六届高分辨率对地观测学术年会在电子科大举行
文:卿晗 学生记者团 卜一珂 图:逆光摄影 潘宇翔 来源:新闻中心 学生记者团 时间:2019-09-24 11465

  9月20-22日,“高分·智绘中国”第六届高分辨率对地观测学术年会在成都举行。作为遥感对地观测领域的顶级学术会议,代表着我国对地观测领域技术交流的最高水准,共有来自国内高校、科研院所、企事业单位的1500余名代表参会。

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  在21日上午举行的开幕式上,四川省副省长杨洪波、电子科技大学校长曾勇分别代表四川省人民政府和电子科技大学向大会致开幕辞。

  杨洪波表示,四川省坚持推进高质量发展,深入推进融合创新,通过充分利用自身优势,将高分成果产业化应用作为融合创新产业集群建设的重点方向,将高分数据广泛应用于地理测绘、地质灾害监测、安全生产、环境保护等领域,为推动政府治理能力和治理体系现代化发挥了重要作用。下一步,四川省将和有关单位加强合作,共同推动四川省融合创新迈上新台阶。

  曾勇表示,“高分专项”是国家确定的16个重大专项之一,已取得一系列重要成果,此次年会的召开对推动我国高分专项科技领域创新发展具有重要的意义。曾勇说,近年来,电子科大结合国家重大需求,依托自身优势学科群,在相关领域取得了一系列成果,电子科大将以此次承办高分年会为契机,与行业优势单位和专家携手,为高分领域贡献成电智慧和成电力量。

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  本着“展示成就、探讨未来、推动应用、互融互通”的办会原则,此次年会以“高分·智绘中国”为主题,围绕如何支撑高分辨率对地观测领域的国家科技重大专项建设,瞄准高分数据资源共享与成果推广应用,关注对地观测领域的挑战、核心技术创新和产业化发展等,邀请国内领域内资深专家学者进行学术交流及成果展示。包括吴一戎院士、王建宇院士、龚健雅院士在内的十余位学者向大会作特邀报告,共同交流高分辨率对地观测领域取得的最新研究成果,提出后续发展建议与思考。

  年会还以分会场研讨、成果发布、展览展示、颁奖表彰、科普活动、科技竞赛等多种形式展开,充分研讨了高分新思想、新技术、新方法和新发展,持续推动着高分体制机制、技术创新以及产业升级,显著提升了专项的品牌效益。

  据了解,本次年会在高分辨率对地观测系统专项管理办公室、中国科学院重大科技任务局、中国航天科技集团有限公司、中国航天科工集团有限公司、中国电子科技集团有限公司、中国航空工业集团有限公司、中国兵器工业集团有限公司指导下,由高分辨率对地观测学术联盟主办,电子科技大学和中国科学院光电技术研究所、中国电子科技集团公司第二十九研究所、航空工业成都飞机设计研究所、中国兵器工业集团北方激光研究院有限公司、地理信息工程国家重点实验室、微波成像技术国家重点实验室、上海交通大学等单位承办。


编辑:李果  / 审核:罗莎  / 发布:陈伟